RUS
... / Главная / Все категории / Полупроводниковые компоненты /Интегральные схемы /Встроенные процессоры и контроллеры /
Системы измерения на чипе
Системы измерения на чипе
Подкатегории
Фильтры
Всего результатов: 68
Manufacturer
Package/Case
Core
Data Bus Width
Максимальная тактовая частота
Program Memory Size
Data RAM Size
ADC Resolution
Number of I/Os
Рабочее напряжение питания
Packaging
Фильтр
Всего результатов: 68
MSP430F67791IPZR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F6778AIPZ
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) 512KB Flsh 16KB SRAM Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430FR6035IPZ
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) 16 MHz MCU with 16KB Flash, 2KB SRAM, comparator, I2C/SPI/UART, HW multiplier 100-LQFP -40 to 85
Производитель: Texas Instruments
ADUCM350BBCZ-RL
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Impedance measurement with ARM Cortex M3
Производитель: Analog Devices
MSP430F67781IPZ
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67791IPEUR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430FR6045IPZ
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) 16-MHz MCU with 128-KB FRAM, LCD, 12-bit high speed 8-MSPS sigma-delta ADC and integrated sensor AFE 100-LQFP -40 to 85
Производитель: Texas Instruments
MSP430F6778IPEU
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67641AIPNR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Low-cost polyphase metering SoC with 3 Sigma-Delta ADCs, 10-bit SAR ADC, LCD, 128KB Flash, 8KB RAM 80-LQFP -40 to 85
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67621AIPZ
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Low-cost polyphase metering SoC with 3 Sigma-Delta ADCs, 10-bit SAR ADC, LCD, 64KB Flash, 4KB RAM 100-LQFP -40 to 85
Производитель: Texas Instruments