RUS
... / Главная / Все категории / Полупроводниковые компоненты /Интегральные схемы /Встроенные процессоры и контроллеры /
Системы измерения на чипе
Системы измерения на чипе
Подкатегории
Фильтры
Всего результатов: 68
Manufacturer
Package/Case
Core
Data Bus Width
Максимальная тактовая частота
Program Memory Size
Data RAM Size
ADC Resolution
Number of I/Os
Рабочее напряжение питания
Packaging
Фильтр
Всего результатов: 68
MSP430F67641IPN
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Microcontroller for 3 phase meters
Производитель: Texas Instruments
MSP430F6779AIPEUR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) 512KB Flsh 32KB SRAM Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67791AIPEUR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) 512KB Flsh 32KB SRAM Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67791AIPZ
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Ultra low power Micro Controller
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67451IPEU
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F6778AIPEU
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) 512KB Flsh 16KB SRAM Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430FR6045IPZR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) 16-MHz MCU with 128-KB FRAM, LCD, 12-bit high speed 8-MSPS sigma-delta ADC and integrated sensor AFE 100-LQFP -40 to 85
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67471AIPZR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Ultra low power Micro Controller
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67471AIPEUR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Ultra low power Micro Controller
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67471IPZ
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments