RUS
... / Главная / Все категории / Полупроводниковые компоненты /Интегральные схемы /Встроенные процессоры и контроллеры /
Системы измерения на чипе
Системы измерения на чипе
Подкатегории
Фильтры
Всего результатов: 68
Manufacturer
Package/Case
Core
Data Bus Width
Максимальная тактовая частота
Program Memory Size
Data RAM Size
ADC Resolution
Number of I/Os
Рабочее напряжение питания
Packaging
Фильтр
Всего результатов: 68
MSP430F67641AIPZR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Low-cost polyphase metering SoC with 3 Sigma-Delta ADCs, 10-bit SAR ADC, LCD, 128KB Flash, 8KB RAM 100-LQFP -40 to 85
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67641IPNR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Microcontroller for 3 phase meters
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67781AIPEUR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) 512KB Flsh 16KB SRAM Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F6778AIPZR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) 512KB Flsh 16KB SRAM Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430FR60371IPZ
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) 16 MHz MCU with 256KB FRAM, 8KB SRAM, Low-Energy Accelerator, LCD, DMA, I2C Bootloader and 76 IO 100-LQFP -40 to 85
Производитель: Texas Instruments
MSP430F6779AIPZR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) 512KB Flsh 32KB SRAM Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67781AIPZ
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Ultra low power Micro Controller
Производитель: Texas Instruments
MSP430FR6037IPZR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) 16 MHz MCU with 256KB FRAM, 8KB SRAM, Low-Energy Accelerator, AES, 12-bit ADC , LCD, DMA and 76 IO 100-LQFP -40 to 85
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67451AIPEU
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Ultra low power Micro Controller
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67641IPZR
Описание: Измерительные системы на кристалле (SoC) Microcontroller for 3 phase meters
Производитель: Texas Instruments