RUS
... / Главная / Все категории / Полупроводниковые компоненты /Интегральные схемы /Встроенные процессоры и контроллеры /
Системы измерения на чипе
Системы измерения на чипе
Подкатегории
Фильтры
Всего результатов: 68
Manufacturer
Package/Case
Core
Data Bus Width
Максимальная тактовая частота
Program Memory Size
Data RAM Size
ADC Resolution
Number of I/Os
Рабочее напряжение питания
Packaging
Фильтр
Всего результатов: 68
MSP430FR60471IPZ
Описание:
Измерительные системы на кристалле (SoC) Ultrasonic Sensing MCU with 256KB FRAM, 8KB RAM, LCD, I2C Bootloader for flow meters 100-LQFP -40 to 85
Производитель: Texas Instruments
MSP430F6779IPEUR
Описание:
Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67791IPEU
Описание:
Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F6779IPZR
Описание:
Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F6779AIPZ
Описание:
Измерительные системы на кристалле (SoC) 512KB Flsh 32KB SRAM Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67781IPEU
Описание:
Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F6779IPEU
Описание:
Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F6779IPZ
Описание:
Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67791IPZ
Описание:
Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments
MSP430F67451IPZ
Описание:
Измерительные системы на кристалле (SoC) Mixed Signal MCU
Производитель: Texas Instruments