Поиск по компоненту

RUS

Войти
bom
Tablo_logo

Специализированная функциональная логика Texas Instruments 8V182512IDGGREP

Specialty Function Logic Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device
Производитель: Texas Instruments
* Изображения служат только для ознакомления, см. техническую документацию
* Изображения служат только для ознакомления, см. техническую документацию
Технические параметры
Атрибут
Значение
Выбрать
Brand
Texas Instruments
Series
SN74LVTH182512-EP
Function
Scan Test Device with Universal Bus Transceiver
Срок эксплуатации
Packaging
Reel
RoHS
Y
Все параметры...
Показать похожие
Похожие компоненты
Показать все
В данный момент по товару нет предложений.
Оставить заявку
Документация
Datasheet